Scattering lifetimes due to interface roughness with large lateral correlation length in a Al1-xGaxN/GaN two-dimensional electron gas

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.66.245305
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut Steacie des sciences moléculaires du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12327945
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Identificateur de l’enregistrement49c5cd04-bebb-4821-a90f-49e4ccb0bc2a
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-06
Date de modification :