Sample thickness affects contrast and measured shape in TEM images and in electron tomograms

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.micron.2023.103562
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Nanotechnologie
Bailleur de fondsRechercher : Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada; Rechercher : National Research Council Canada
FormatTexte, Article
Sujettransmission electron microscopy (tem); multiple scattering; electron tomography; image quality; top-bottom effect; thick sample; nanoparticle shape
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
IdentificateurS0968432823001609
Numéro du CNRCNRC-NANO 279
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Identificateur de l’enregistrement05248727-6491-4212-b991-0cdd27b59703
Enregistrement créé2024-02-08
Enregistrement modifié2025-11-03

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