Advanced electron microscopy characterization at National Institute for Nanotechnology
Advanced electron microscopy characterization at National Institute for Nanotechnology
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Allocution |
| Conférence | 89th Canadian Chemistry Conference, May 27-31, 2006, Halifax, Nova Scotia, Canada |
| Date de publication | 2006 |
| Langue | anglais |
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| Identificateur de l’enregistrement | 05d0e398-ff31-4211-9f3c-1f7710f9c864 |
| Enregistrement créé | 2021-09-27 |
| Enregistrement modifié | 2021-09-27 |
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