Detection of Single-Electron Charging in an Individual InAs Quantum Dot by Noncontact Atomic-Force Microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.94.056802
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12744336
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Identificateur de l’enregistrement1186c53d-0d57-4504-9021-8cf72c501433
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2023-05-16
Date de modification :