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Degradation mechanism at XLPE/semicon interface subjected to high electrical stress

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/14.78329
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • IEEE transactions on electrical insulation 26, nº April 2 (1991) : 278–284.
Langueanglais
Numéro du CNRCNRC-INMS-1628
Numéro NPARC8898698
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Identificateur de l’enregistrement1713dea3-e9f1-41f9-a52c-bb7609eed2e5
Enregistrement créé2009-04-22
Enregistrement modifié2020-03-17
Date de modification :