Fabrication and characterisation of multi-level lateral nano-devices

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/0039-6028(94)90971-7
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
SujetElectron transitions; Gates (transistor); Semiconducting aluminum compounds; Semiconducting gallium arsenide; Semiconductor device structures; Semiconductor quantum wells; Surfaces; Artificial impurity; Multilevel lateral nano-devices; Quantum dot; Quantum interference effects; Ring geometry; Semiconducting aluminum gallium arsenide; Surface gate patterns; Semiconductor device manufacture
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21274634
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Identificateur de l’enregistrement1af138e6-6c21-4920-9cd5-05e5a0adcd1f
Enregistrement créé2015-03-18
Enregistrement modifié2020-04-27
Date de modification :