3D imaging of Si and Er nanoclusters in Er doped SiO1.5 films by STEM tomography
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DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927609093143 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | Microscopy and Microanalysis 2009, July 26-30, 2009, Richmond, Virginia, USA |
Date de publication | 2009-07-29 |
Maison d’édition | Cambridge University Press |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 19739589 |
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Identificateur de l’enregistrement | 2b7ef35c-0af0-4e41-a668-aa30b255bac5 |
Enregistrement créé | 2012-04-19 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :