Téléchargement | - Voir la version finale : Anti-reflection subwavelength gratings for InP-based waveguide facets (PDF, 3.1 Mio)
|
---|
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1364/OL.431353 |
---|
Auteur | Rechercher : Puts, LukasIdentifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-5416-3006; Rechercher : Leijtens, XaveerIdentifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-7794-8236; Rechercher : Cheben, Pavel1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0003-4232-9130; Rechercher : Schmid, Jens1; Rechercher : Reniers, Sander; Rechercher : Melati, Daniele1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-3427-0186 |
---|
Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Électronique et photonique avancées
|
---|
Format | Texte, Article |
---|
Résumé | We demonstrate the anti-reflection properties of lithographically defined subwavelength gratings applied to the facets of integrated waveguides realized in the InP membrane-on-silicon platform. The subwavelength gratings are based on the gradient index effect to create a smooth index transition between the core material and air, making it possible to obtain reflections below −30dB at a wavelength of 1550 nm for both TE and TM polarized modes, as shown by 3D finite-difference time-domain simulations. Characterizations performed using Mach–Zehnder interferometers as test structures show relative reflections as low as −25dB, confirming the effectiveness of the technique. |
---|
Date de publication | 2021-07-28 |
---|
Maison d’édition | Optica Publishing Group |
---|
Dans | |
---|
Langue | anglais |
---|
Publications évaluées par des pairs | Oui |
---|
Exporter la notice | Exporter en format RIS |
---|
Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
---|
Identificateur de l’enregistrement | 2e177e54-2440-4d66-b3cf-86fbe7906ea1 |
---|
Enregistrement créé | 2022-09-16 |
---|
Enregistrement modifié | 2022-09-16 |
---|