Inspection of materials and structures by infrared thermography: signal processing techniques for defect enhancement and characterization
Inspection of materials and structures by infrared thermography: signal processing techniques for defect enhancement and characterization
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/0963-8695(93)90278-3 |
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| Affiliation |
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| Format | Texte, Résumé |
| Date de publication | 1993-04 |
| Maison d’édition | Elsevier |
| Dans | |
| Langue | anglais |
| Publications évaluées par des pairs | Non |
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| Identificateur de l’enregistrement | 4632351b-2e7f-471b-9fac-4725eed2b833 |
| Enregistrement créé | 2024-04-29 |
| Enregistrement modifié | 2024-04-29 |
- Date de modification :