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Surface chemistry of end cuts from Athabasca bitumen

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1002/1096-9918(200008)30:1<207::AID-SIA816>3.0.CO;2-5
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut de technologie des procédés chimiques et de l'environnement du CNRC
FormatTexte, Article
Sujetbitumen; end cut; surface; XPS; ToF-SIMS; FTIR
Résumé
Bitumen components, responsible for various processing problems, were analysed with x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and photoacoustic Fourier transform infrared spectrometry (PAS–FTIR). These methods were selected because they can probe surfaces to different depths: ToF-SIMS explores the surface to a depth of ~1 nm; XPS analyses a surface layer 7 nm deep; and PAS–FTIR probes layers several micrometres thick.
Date de publication
Maison d’éditionWiley
Dans
  • Surface and Interface Analysis 30, nº 1 (5 septembre 2000) : 207–211.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro du CNRCNRCC 51877
Numéro NPARC13063727
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Identificateur de l’enregistrement465d9a4c-2ed8-41ed-b3b0-12585e80eb1d
Enregistrement créé2009-12-03
Enregistrement modifié2022-03-10
Date de modification :