Ionic structure, liquid-liquid phase transitions, x-ray diffraction, and x-ray Thomson scattering in shock-compressed liquid silicon in the 100–200 GPa regime

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevE.111.015205
AuteurRechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8987-9071; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0003-2911-8726; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2206-5927; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-4153-0628
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Quantique et nanotechnologies
Bailleur de fondsRechercher : Engineering and Physical Sciences Research Council
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionAmerican Physical Society
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement47869ac7-adf9-4abf-a977-d5d8c67941c5
Enregistrement créé2025-06-16
Enregistrement modifié2025-06-16

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