Structural characterization of stable amorphous silicon films
Structural characterization of stable amorphous silicon films
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0038-1098(02)00123-0 |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2002 |
| Dans | |
| Numéro NPARC | 12744583 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 4ab4f4df-afa7-447f-9646-41d7eb620cfa |
| Enregistrement créé | 2009-10-27 |
| Enregistrement modifié | 2020-03-30 |
- Date de modification :