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Structural characterization of a UHV/CVD-grown SiGe HBT with graded base

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0040-6090(98)00468-4
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Thin Solid Films 321, nº May 26 (26 mai 1998) : 167–171.
Langueanglais
Numéro du CNRCNRC-INMS-1116
Numéro NPARC8898593
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Identificateur de l’enregistrement4f0d1782-7cd9-4b26-b3f7-78d590892779
Enregistrement créé2009-04-22
Enregistrement modifié2020-03-20
Date de modification :