| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Exploiting the precision and accuracy of powder diffraction profiles with appropriately parameterized Rietveld refinement models (PDF, 2.3 Mio)
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| Auteur | Rechercher : Mercier, P. H. J.1; Rechercher : Le Page, Y.1; Rechercher : Whitfield, P. S.1; Rechercher : Mitchell, L. D.2 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches Canada. Institut de technologie des procédés chimiques et de l'environnement du CNRC
- Conseil national de recherches Canada. Institut de recherche en construction du CNRC
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| Format | Texte, Allocution |
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| Conférence | 2009 ACA Meeting, 26 July 2009, Toronto, Canada |
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| Date de publication | 2009-07-26 |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Non |
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| Numéro du CNRC | NRCC 52049 |
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| Numéro NPARC | 15329271 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
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| Identificateur de l’enregistrement | 580c2bb5-67f9-49e2-8fcb-214fed317eab |
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| Enregistrement créé | 2010-05-19 |
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| Enregistrement modifié | 2020-03-03 |
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