Spontaneous emission and reflectivity measurements for the characterization of facet-coatings of semiconductor lasers

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/PN.2015.7292494
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Technologies de l'information et des communications
FormatTexte, Article
Conférence2015 Photonics North, June 9-11, 2015, Ottawa, Ontario Canada
SujetLaser coating; Spontaneous emission; Reflectivity; Laser characterization
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionIEEE
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23000104
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Identificateur de l’enregistrement58cb3a82-6cbc-4c19-918e-83859d6b3f8a
Enregistrement créé2016-06-02
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :