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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.4224/20337886 |
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| Auteur | Rechercher : Gillott, J. E. |
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| Format | Texte, Rapport technique |
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| Description physique | 28 p. |
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| Résumé | A comparison is made of optical, electron, and x-ray microscopes, and the electron probe x-ray microanalyser is discussed. Thermal methods with particular reference to differential thermal analysis are described. |
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| Date de publication | 1959-11-01 |
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| Maison d’édition | National Research Council of Canada |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Non |
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| Numéro du CNRC | NRC-IRC-7307 |
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| Numéro NPARC | 20337886 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 5d580437-4fcc-440c-8850-beecee5d58d2 |
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| Enregistrement créé | 2012-07-19 |
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| Enregistrement modifié | 2022-08-09 |
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