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Gouvernement du Canada / Government of Canada

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In-situ Monitoring of Residual Stress Development During E-Beam Processing

AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 3
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut de recherche aérospatiale du CNRC
  2. EMS Technologies
  3. McGill University
FormatTexte, Article
ConférenceSAMPE 2004 - 49th International SAMPE Symposium From 5/18/2004 To 5/20/2004, Long Beach, CA
SujetComposites; Polymers; Electron Beam Curing; Process Modelling; Residual Stress
Condition d’accès
  • available
  • unclassified
  • unlimited
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro du CNRCSMPL-2004-0039
Numéro NPARC8927652
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Identificateur de l’enregistrement5e684a82-176b-4551-ae10-ecc114e6a31e
Enregistrement créé2009-04-23
Enregistrement modifié2020-04-16

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