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Three-dimensional imaging metrology: 19-20 January 2009, San Jose, California, USA

Par Conseil national de recherches du Canada

Lienhttp://spie.org/Publications/Proceedings/Volume/7239
ÉditeurRechercher : Beraldin, J. Angelo1; Rechercher : Cheok, Geraldine S.; Rechercher : McCarthy, Michael B.
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada
FormatTexte, Livre
ConférenceIS&T/SPIE Electronic Imaging, Science and Technology, 19-20 January 2009, San Jose, California, USA
ISBN9780819474896
Résumé
First conference on 3D Imaging Metrology.
Date de publication
Maison d’éditionSPIE
Série
  • Proceedings of SPIE, nº 7239.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23001667
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Identificateur de l’enregistrement6128f49b-9e6d-422d-8754-8ef1af4607cd
Enregistrement créé2017-03-16
Enregistrement modifié2020-03-02
Date de modification :