Characterization of the interface in a TiC reinforced Ti-6%Al-4%V composite using a field emission gun scanning electron microscope
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| Format | Texte, Allocution |
| Conférence | Field Emission SEM and CryoSEM Symposium, Scanning 97, 1997, Monterey, USA |
| Date de publication | 1997 |
| Langue | anglais |
| Publication du CNRC | Cette publication n’est pas du CNRCCe sont des publications qui ont été rédigées par un auteur du CNRC, mais avant que celui-ci soit employé du CNRC. |
| Numéro NPARC | 21276413 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 666e8e35-a864-47be-b434-04d3edb20870 |
| Enregistrement créé | 2015-10-13 |
| Enregistrement modifié | 2020-05-19 |
- Date de modification :