| Autre titre | SPIE |
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| Auteur | Rechercher : Lefebvre, J.; Rechercher : Poole, Philip1; Rechercher : McCaffrey, John2; Rechercher : Lamontagne, Boris1; Rechercher : Aers, Geoffrey1; Rechercher : Lee, C.; Rechercher : Hu, S.; Rechercher : Williams, Robin1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
- Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | SPIE Optoelectronics Materials and Devices II, 2000, Taipei |
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| Numéro NPARC | 12346529 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | 8d99eeb7-e7b4-444f-a7b3-e1a9dd34adf8 |
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| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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