Multi-elemental depth profiling by microbeam PIXE of phenolic coatings exposed to sulphuric acid
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DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1007/BF00580147 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Sujet | electrochemical impedance spectroscopy; sulphuric acid; depth profile; sulphur concentration |
Résumé | |
Date de publication | 1990-12-31 |
Maison d’édition | Springer |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro du CNRC | CNRC 33345 NRC-IMI91AP-24003-1202-G |
Numéro NPARC | 23004504 |
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Identificateur de l’enregistrement | 8e615afe-d682-4aac-90ea-eddf0c59c678 |
Enregistrement créé | 2018-11-09 |
Enregistrement modifié | 2020-03-17 |
- Date de modification :