Scanning tunneling microscopy characterization of low-profile crystalline TiSi2 microelectrodes on a Si(111) surface
Scanning tunneling microscopy characterization of low-profile crystalline TiSi2 microelectrodes on a Si(111) surface
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1922572 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Sujet | annealing; electrical contacts; electrical resistivity; elemental semiconductors; microelectrodes; scanning tunnelling microscopy; semiconductor-insulator boundaries; silicon; surface reconstruction; thermal stability; titanium compounds |
Résumé | |
Date de publication | 2005-05-01 |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 12338137 |
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Identificateur de l’enregistrement | 8fe10924-3c91-4da7-b7cc-9f5a729070b3 |
Enregistrement créé | 2009-09-10 |
Enregistrement modifié | 2023-05-10 |
- Date de modification :