Characterization of carrier states in CuWO4 thin-films at elevated temperatures using conductometric analysis

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.jssc.2013.02.002
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Énergie, les mines et l'environnement
FormatTexte, Article
SujetSemiconducting metal-oxide; Surface characterization; Electron transport; Conductometric analysis; Activation energy; Oxygen states
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
IdentificateurS0022459613000777
Numéro du CNRCNRCC 53116
Numéro NPARC21268499
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Identificateur de l’enregistrement90b48cb0-8dc6-4ee8-8791-1c1c7ac31811
Enregistrement créé2013-08-16
Enregistrement modifié2020-06-04
Date de modification :