Electrostatic landscape of a hydrogen-terminated silicon surface probed by a moveable quantum dot
Electrostatic landscape of a hydrogen-terminated silicon surface probed by a moveable quantum dot
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1021/acsnano.9b04653 |
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Auteur | Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-6876-8265; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8146-8841; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9164-1556; Rechercher : 1 |
Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Sujet | dopant; kelvin probe force microscopy; dangling bond; surface electrostatics; quantum dot; hydrogen-terminated silicon; noncontact atomic force microscopy |
Résumé | |
Date de publication | 2019-08-06 |
Maison d’édition | American Chemical Society |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
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Identificateur de l’enregistrement | 9e86a92d-7ec6-43c2-9cee-ebc1020717d1 |
Enregistrement créé | 2021-03-02 |
Enregistrement modifié | 2021-03-02 |
- Date de modification :