Artefacts for surface measurement

Par Conseil national de recherches du Canada

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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut de technologie de l'information du CNRC
FormatTexte, Article
ConférenceSPIE Optical Metrology: Videometrics, Range Imaging and Applications, May 23-26, 2011, Munich, Germany
SujetMetrology; Artefacts; Freeform Measurement; Best Practice
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC16285592
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Identificateur de l’enregistrement9e97cfa8-2580-442d-b8ce-641f63cb0943
Enregistrement créé2010-11-03
Enregistrement modifié2020-04-21
Date de modification :