| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Charge trapping in and electrical properties of pulsed laser deposited Sm2O3 films (PDF, 228 Kio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1569660 |
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| Auteur | Rechercher : Yang, Dongfang1; Rechercher : Xue, Lijue1; Rechercher : Devine, R.A.B. |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des matériaux industriels du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | electrical properties; pulsed laser deposition; pulsed lasers; thin films; dielectric constant |
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| Résumé | The electrical properties of pulsed laser deposited Sm2O3 films have been studied. The dielectric constants are 9.6 and 12.8 for samples deposited at 400 and 683 °C, respectively. The presence of substantial densities of mobile positive charge and significant negative charge trapping has been evidenced. The leakage current densities are, typically, 10−4 A cm−2 for electric fields∼0.24 MV cm−1. |
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| Date de publication | 2003-05-19 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 21272524 |
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| Identificateur de l’enregistrement | a749a7d6-bb84-4372-a621-da7f78b7b910 |
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| Enregistrement créé | 2014-12-01 |
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| Enregistrement modifié | 2021-12-07 |
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