| Auteur | Rechercher : Hinzer, K.; Rechercher : Hawrylak, Pawel1; Rechercher : Korkunsinski, M.; Rechercher : McCaffrey, John2; Rechercher : Wasilewski, Zbigniew1; Rechercher : Fafard, S.; Rechercher : Bayer, M.; Rechercher : Stern, O.; Rechercher : Forchel, A. |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
- Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Conférence | 25th International Conference on the Physics of Semiconductors, 17-22 September 2000, Osaka, Japan |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Numéro NPARC | 12346717 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | ae946339-891f-433e-82c0-00240163b16a |
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| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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