| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927614004863 |
|---|
| Auteur | Rechercher : Malac, Marek1; Rechercher : Kimoto, Koji; Rechercher : Egerton, Ray1; Rechercher : Shekhar, Prashant; Rechercher : Jacob, Zubin; Rechercher : Taniguchi, Yoshifumi; Rechercher : Gaind, Vaibhav |
|---|
| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada
|
|---|
| Format | Texte, Article |
|---|
| Conférence | Microscopy & Microanalysis 2014, August 3-7, 2014, Hartford, Connecticut, United States |
|---|
| Résumé | Electron energy loss spectroscopy (EELS) in a TEM can measure the optical response of individual nanostructures at high spatial resolution [1] and obtain structure and morphology of the individual nanostructures. Here we show that high quality valence EELS (VEELS) can be acquired and interpreted to well below 2 eV in an instrument equipped with a cold field emission gun (CFEG) and a standard Gatan Image Filter (GIF) TridiemTM. We provide interpretation of the main spectral feature in the momentum-resolved EELS (qEELS) spectrum. |
|---|
| Date de publication | 2014-08-27 |
|---|
| Maison d’édition | Cambridge University Press |
|---|
| Dans | |
|---|
| Langue | anglais |
|---|
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
|---|
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
|---|
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
|---|
| Identificateur de l’enregistrement | b06b4cce-70fb-4888-8feb-91b099aa6269 |
|---|
| Enregistrement créé | 2020-02-29 |
|---|
| Enregistrement modifié | 2024-05-15 |
|---|
