| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2014.04.005 |
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| Auteur | Rechercher : Hayashida, M.; Rechercher : Malac, M.1; Rechercher : Bergen, M.1; Rechercher : Li, P.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | Electron tomography; Nanoparticle agglomerate; Electron beam induced deposition; Fiducial marker; Nano-dot marker; FIB sample preparation |
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| Résumé | A method allowing fabrication of nano-dot markers for electron tomography was developed using an electron beam-induced deposition in an ordinary dual beam instrument (FIB and SEM) or an SEM. The electron beam deposited nano-dot markers are suitable for automatic alignment of tomographic series. The accuracy of the alignment was evaluated and the method was demonstrated on agglomerated nanoparticle samples using a rod-shaped sample with no missing wedge effect. Simulations were used to assess the effect of marker size on alignment accuracy. © 2014. |
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| Date de publication | 2014-04-26 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 21272302 |
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| Identificateur de l’enregistrement | b161c1ff-d2ca-45cc-af96-71a3461312e9 |
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| Enregistrement créé | 2014-07-24 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-22 |
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