| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Frequency resolved high-harmonic wavefront characterization (PDF, 661 Kio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1364/OL.34.003026 |
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| Auteur | Rechercher : Frumker, E.1; Rechercher : Paulus, G. G.; Rechercher : Niikura, H.1; Rechercher : Villeneuve, D. M.1; Rechercher : Corkum, P. B.1 |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada
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| Format | Texte, Article |
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| Résumé | We introduce and demonstrate a novel concept of frequency-resolved wavefront characterization. Our approach is particularly suitable for high-harmonic, extreme-UV (XUV) and soft X-ray radiation. The concept is based on an analysis of radiation diffracted from a slit scanned in front of a flat-field XUV spectrometer. With the spectrally resolved signal spread across one axis and the spatially resolved diffraction pattern in the other dimension, we reconstruct the wavefront. While demonstrated for high harmonics, the method is not restricted in wavelength. |
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| Date de publication | 2009-09-01 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 15203842 |
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| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
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| Identificateur de l’enregistrement | b4274a09-6525-444f-9cc3-1e2e3efac04d |
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| Enregistrement créé | 2010-07-12 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
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