Sélection de la langue

Gouvernement du Canada / Government of Canada

Recherche

Electrical Characterization and Surface Morphology of Optimized Ti/Al/Ti/Au Ohmic Contacts for AlGaN/GaN HEMTs

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1149/1.2206998
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Journal of The Electrochemical Society 153, nº 8 (2006) : G746–G749.
Numéro NPARC12744706
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrementb804ce82-6f77-4019-b809-be6ca2856bfe
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :