Vectorized optoelectronic control and metrology in a semiconductor

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1038/s41566-020-0690-1
AuteurRechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8118-1445; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-8168-7304; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
FormatTexte, Article
Sujetoptical metrology; optoelectronic devices and components; ultrafast photonics
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionNature Research
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrementbb50aa58-8441-4099-9863-41b62cf0c6f8
Enregistrement créé2020-12-24
Enregistrement modifié2020-12-24
Date de modification :