Step dynamics on growing silicon surfaces observed by ultrahigh vacuum scanning electron microscopy
Step dynamics on growing silicon surfaces observed by ultrahigh vacuum scanning electron microscopy
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0022-0248(01)01844-9 |
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Format | Texte, Article |
Date de publication | 2002 |
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Numéro NPARC | 12744509 |
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Identificateur de l’enregistrement | c916a075-223b-4d55-8935-4f5cce6e4060 |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-03-30 |
- Date de modification :