A Stereo Vision System for On-Machine Dimensional Metrology
A Stereo Vision System for On-Machine Dimensional Metrology
| Auteur | Rechercher : |
|---|---|
| Format | Texte, Article |
| Conférence | SPIE Proceedings, Applications of Artificial Intelligence VII, March 28-30, 1989., Orlando, Florida, USA |
| Date de publication | 1989 |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRCC 30105 |
| Numéro NPARC | 5765189 |
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Identificateur de l’enregistrement | d686df5a-3b69-4689-a79d-45e4454b63f2 |
| Enregistrement créé | 2009-03-29 |
| Enregistrement modifié | 2020-03-17 |
- Date de modification :