Mesostructured MTES-derived silica thin film with spherical voids investigated by TEM: 2. dislocations and strain relaxation

Par Conseil national de recherches du Canada

Téléchargement
  1. (PDF, 641 Kio)
DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1021/la034309i
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : ; Rechercher : 2
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut Steacie des sciences moléculaires du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Numéro NPARC12327559
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrementdbb0e76b-b5a0-4f9e-8b26-4f86076bced3
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-02
Date de modification :