Characterization of coherent Si1-x Gex island superlattices on Si100
Characterization of coherent Si1-x Gex island superlattices on Si100
| Auteur | Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1 |
|---|---|
| Affiliation |
|
| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2007 |
| Dans | |
| Numéro NPARC | 12346491 |
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Identificateur de l’enregistrement | ddcd8310-146f-4617-93ce-be8a65d7d1df |
| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
| Enregistrement modifié | 2020-05-10 |
- Date de modification :