A semi-automatic workflow for atomic force microscopy image analysis and cellulose nanocrystal particle size measurements

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1007/s10570-025-06690-w
AuteurRechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-7287-604X; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9911-3459; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-9526-0953; Rechercher : 1Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-9136-4920; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-5718-0493; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6880-7765; Rechercher : 2Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-1868-6464; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0001-6909-7507
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Centre de recherche en métrologie
  2. Conseil national de recherches Canada. Quantique et nanotechnologies
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionSpringer
Dans
Langueanglais
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Identificateur de l’enregistrementeaa7b0d5-3d00-4e35-abe5-8c70211cdd8e
Enregistrement créé2025-09-09
Enregistrement modifié2025-09-09

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