Spatially resolved characterization of interface plasmons in Si/SiO2 core/shell nanostructures
Spatially resolved characterization of interface plasmons in Si/SiO2 core/shell nanostructures
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S143192760909401X |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | Microscopy and Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA |
Date de publication | 2009-07-29 |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 19739577 |
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Identificateur de l’enregistrement | f1181c9b-e188-4c13-bd11-1c1a9b95d5f2 |
Enregistrement créé | 2012-04-02 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :