Raman microscopy mapping for the purity assessment of chirality enriched carbon nanotube networks in thin-film transistors

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1007/s12274-015-0725-y
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
FormatTexte, Article
SujetRaman spectroscopy; carbon nanotubes; thin film transistors; microscopy mapping; purity assessment
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21275676
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Identificateur de l’enregistrementf77e41ec-42d1-48a6-9227-7600b5f4387c
Enregistrement créé2015-07-14
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :