| Auteur | Rechercher : Dobrowolski, J. A.; Rechercher : Guo, Yanen1; Rechercher : Poitras, Daniel1; Rechercher : Ma, Penghui1; Rechercher : Tiwald, Tom |
|---|
| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
|
|---|
| Format | Texte, Article |
|---|
| Conférence | Topical Meeting on Optical Interference Coatings, 27 June 2004, Tucson, Arizona, USA |
|---|
| Résumé | The measured performance of the experimentally produced antireflection coatings will be presented. The optical constants of the thin films used in the construction were determined by spectrophotometric ellipsometry and will be compared to literature values. |
|---|
| Date de publication | 2004 |
|---|
| Dans | |
|---|
| Série | |
|---|
| Langue | anglais |
|---|
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
|---|
| Numéro NPARC | 12346227 |
|---|
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
|---|
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
|---|
| Identificateur de l’enregistrement | fa98f384-ac8c-4601-823c-46c751e4f232 |
|---|
| Enregistrement créé | 2009-09-17 |
|---|
| Enregistrement modifié | 2020-04-17 |
|---|
