Characterizing the rate and coherence of single-electron tunneling between two dangling bonds on the surface of silicon

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.89.035315
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21272219
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Identificateur de l’enregistrement09ea74c3-5efd-4f30-be97-996278b4d3ec
Enregistrement créé2014-07-23
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :