Structural changes in amorphous silicon studied by X-ray photoemission spectroscopy: a phenomenon 109, independent of the Staebler-Wronski effect?
Structural changes in amorphous silicon studied by X-ray photoemission spectroscopy: a phenomenon 109, independent of the Staebler-Wronski effect?
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0022-3093(01)00339-8 |
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| Format | Texte, Article |
| Date de publication | 2001 |
| Dans | |
| Numéro NPARC | 12743934 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 0c3f673d-66dc-40aa-9b63-057b4226ba69 |
| Enregistrement créé | 2009-10-27 |
| Enregistrement modifié | 2020-03-27 |
- Date de modification :