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Fourier transform technique with frequency filtering for optical thin-film design

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1364/AO.34.000688
AuteurRechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
A Fourier analysis of existing and potentially complex refractive index profiles is often useful in the resolution of thin-film design problems. Applications of a frequency-filtering technique, which consists of the suppression of undesired spatial frequencies from the refractive index profiles, are described. A new, extremely simple antireflection coating synthesis method based on this concept is proposed.
Date de publication
Dans
  • Applied Optics 34, nº 4 (1 février 1995) : 688–694.
Langueanglais
Numéro NPARC12330248
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Identificateur de l’enregistrement1c764e78-fd0f-4de9-9183-714ecfb59c8f
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-29

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