Origin of bright field TEM contrast enhancement by a hole-free phase plate
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Affiliation |
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Format | Texte, Allocution |
Conférence | 17th International Microscopy Congress, September 2010, Rio de Janeiro, Brazil |
Date de publication | 2010-09 |
Maison d’édition | International Federation of Societies for Microscopy |
Langue | anglais |
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Identificateur de l’enregistrement | 21de7cae-4a9f-43f2-ab7b-cdfde839f048 |
Enregistrement créé | 2021-09-03 |
Enregistrement modifié | 2021-09-14 |
- Date de modification :