Origin of hole free phase plate image contrast in a TEM

Par Conseil national de recherches du Canada

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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Conférence73rd meeting of the Japanese Society of Microscopy, May 30 – June 1, 2017, Sapporo, Japan
Date de publication
Maison d’éditionJapanese Society of Microscopy
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
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Identificateur de l’enregistrement241dd1fe-cbfe-4b46-b7ae-cd82be252662
Enregistrement créé2021-08-25
Enregistrement modifié2021-08-25
Date de modification :