Crystallinity, order, the thin-film silicon continuum, and the spectral dependence of the refractive index in thin silicon films grown through ultra-high-vacuum evaporation for a range of growth temperatures

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2021.120657
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Centre de recherche en métrologie
  2. Conseil national de recherches du Canada. Électronique et photonique avancées
Bailleur de fondsRechercher : Mitacs; Rechercher : Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada
FormatTexte, Article
Sujetcrystallinity; order; thin-film silicon continuum; ultra-high-vacuum evaporation; growth temperature
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
IdentificateurS0022309321000168
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Identificateur de l’enregistrement2bdfbbe9-fd4f-4cf6-893c-ab85c6524202
Enregistrement créé2023-01-09
Enregistrement modifié2023-01-09
Date de modification :