Crystallinity, order, the thin-film silicon continuum, and the spectral dependence of the refractive index in thin silicon films grown through ultra-high-vacuum evaporation for a range of growth temperatures
Crystallinity, order, the thin-film silicon continuum, and the spectral dependence of the refractive index in thin silicon films grown through ultra-high-vacuum evaporation for a range of growth temperatures
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2021.120657 |
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Affiliation |
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Bailleur de fonds | Rechercher : Mitacs; Rechercher : Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada |
Format | Texte, Article |
Sujet | crystallinity; order; thin-film silicon continuum; ultra-high-vacuum evaporation; growth temperature |
Résumé | |
Date de publication | 2021-02-26 |
Maison d’édition | Elsevier |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Identificateur | S0022309321000168 |
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Identificateur de l’enregistrement | 2bdfbbe9-fd4f-4cf6-893c-ab85c6524202 |
Enregistrement créé | 2023-01-09 |
Enregistrement modifié | 2023-01-09 |
- Date de modification :