In-situ Monitoring of Residual Stress Development During E-Beam Processing - ABSTRACT ONLY
In-situ Monitoring of Residual Stress Development During E-Beam Processing - ABSTRACT ONLY
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | SAMPE 2004 - 49th International SAMPE Symposium From 5/18/2004 To 5/20/2004, Long Beach, CA |
Sujet | Composites; Polymers; Electron Beam Curing; Process Modelling |
Condition d’accès |
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Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro du CNRC | SMPL-2003-0292 |
Numéro NPARC | 8933344 |
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Identificateur de l’enregistrement | 2f3d4102-3daf-44bc-bf0e-d33fee67735e |
Enregistrement créé | 2009-04-23 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :