Technique for fitting complex probes in nano-beam diffraction
Technique for fitting complex probes in nano-beam diffraction
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S143192760909494X |
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Auteur | Rechercher : 1; Rechercher : 1 |
Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | Microscopy and Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA |
Date de publication | 2009-07 |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 21268177 |
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Identificateur de l’enregistrement | 3bd6afec-7867-4144-9a37-8da54b6da889 |
Enregistrement créé | 2013-05-21 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :