Direct imaging of the depletion region of an InP pn junction under bias using scanning voltage microscopy

DOI	Trouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1528277
Auteur	Rechercher : Ban, D.; Rechercher : Sargent, E. H.; Rechercher : Dixon-Warren, St. J.; Rechercher : Calder, I.; Rechercher : Springthorpe, Anthony¹; Rechercher : Dworschak, R.; Rechercher : Este, G.; Rechercher : White, J. K.
Affiliation	Conseil national de recherches Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
Format	Texte, Article
Date de publication	2002
Dans	Applied Physics Letters 81, nº 26 (2002) : 5057–5059.
Langue	anglais
Publications évaluées par des pairs	Oui
Numéro NPARC	12744750
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Identificateur de l’enregistrement	42003d2c-25a0-447c-aa44-1baca85c6dbb
Enregistrement créé	2009-10-27
Enregistrement modifié	2023-05-10

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