Direct imaging of the depletion region of an InP pn junction under bias using scanning voltage microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1063/1.1528277
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12744750
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Identificateur de l’enregistrement42003d2c-25a0-447c-aa44-1baca85c6dbb
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2023-05-10
Date de modification :