Scanning tunneling microscopy images of IIIV semiconductor alloys: strain effects
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DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1116/1.1529651 |
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Format | Texte, Article |
Date de publication | 2003 |
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Numéro NPARC | 12744628 |
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Identificateur de l’enregistrement | 42ca7a48-84ae-449f-bdf0-b8382f3bc569 |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-04-02 |
- Date de modification :